涵盖像素缺陷检测及Mura缺陷检测。
适用于多种成像平台。
支持客制化测试。
可检测多种点线缺陷类型及Mura缺陷类型。
支持多种通道检测。
原创阈值算法及色度/饱和度分析算法。
检测效率高：<=5s/片