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重大突破:卡提列开发纳米级芯片检测镜头取得阶段性成果
10年磨一剑,卡提列光学成立之初瞄准高端镜头开发,先后开发出7000万像素双远心镜头、短焦40mm 8K线扫镜头、短焦20mm 8K线扫镜头、16K 线扫镜头、LDI 激光直写镜头等,但这些镜头和几十纳米芯片检测镜头相比不可同日而语。
开发纳米级芯片检测镜头卡提列解决了光学设计、机械设计、机械加工、光学加工、光学镀膜、镜片检测、装配等一系列问题。
镜片装配偏心可以控制在1um以内,间隔公差<±4um.
为了应对高精度镜头的开发,卡提列自主开发了系列检测仪器。
芯片检测镜头的开发成功为日后高精度镜头的开发奠定了基础。
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